手持式X射線熒光分析儀FAS 2980 Plus
無論是在現(xiàn)場還是在車間，Niton XL2 Plus 都能使您隨時應對 挑戰(zhàn)的工業(yè)環(huán)境。操作人員可檢測各種材料，滿足不同分 析需求。識別純金屬和合金，檢測雜質元素或獲取地球化學數(shù) 據(jù) - Niton XL2 Plus 隨時應對各種分析挑戰(zhàn)。
Niton XL2 Plus 旨在提供快速分析和低檢測限，確保獲得可靠結果。Niton XL2 Plus 通過專有2W X射線管、動態(tài)電流調節(jié)和新一代硅漂移探測器為每次測量提供優(yōu)良靈敏度。Niton XL2 Plus 通過智能基本參數(shù)法（FP）校正樣品基質效應以獲 得準確結果。
分析應用

●驗證生產中使用的金屬和合金

●在質量保證檢測中正確鑒別材料

●在廢料回收操作中進行自動分揀

●測量單個元件層的涂層厚度

●金銀和珠寶的貴金屬分析

●礦石貿易和等級控制的地球化學分析

●污染土壤的現(xiàn)場重金屬篩查

●工業(yè)設施漆層檢驗中的鉛檢測

●消費品中的有害物質篩
技術優(yōu)勢
FAS 2980 Plus 旨在提供快速分析和低檢測限，確保獲得可靠結果。FAS 2980 Plus 通過專有2W X射線管動態(tài)電流調節(jié)和新一代硅漂移探測器為每次測量提供優(yōu)秀的靈敏度。FAS 2980 Plus 通過智能基本參數(shù)法（FP）校正樣品基質效應以獲 得準確結果
手持式X射線熒光分析儀FAS 2980 Plus產品性能

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